首 页   关于我们   新闻中心   产品与服务   党建与文化   人力资源   联系我们  
当前位置: 首页  >  新闻中心  >  企业要闻 > 正文
航天测控公司助力第29届测试与故障诊断技术研讨会成功举办
发布时间:2021年08月20日    来源:航天测控

 

近日,第29届测试与故障诊断技术研讨会,在江苏无锡盛大开幕。本研讨会是由中国计算机自动测量与控制技术协会主办,国防科技工业自动化测试创新中心,中国航天科工集团公司武器装备综合保障技术中心、中国航天科工集团公司通用测试保障分中心、高速交通工具智能诊断与健康管理北京市重点实验室、北京航天测控技术有限公司、《计算机测量与控制》杂志社协办。与会代表来自航天、航空、兵器、船舶、核工业、电子、各军兵种、科研院、所、公司、大专院校100多个单位、200多名代表参加研讨会。航天测控公司作为协办单位支持并助力会议活动成功举办。 

 

 

会议活动开幕环节,航天测控公司陈斐副总经理应邀出席并致辞,围绕会议主题提出“为适应现代高新技术大型复杂设备、故障预测与诊断和维修保障要求,军用ATE已成为测试技术与信息处理、性能检测与故障诊断、系统辨识与参数估计、控制与决策、人工智能等多种紧密结合的复杂系统。更加注重综合和专用相结合,通用化和小型化结合,设计验证、生产检测、诊断维修一体化结合,实现一机多用和快速测试诊断的目标。测试、预测与健康管理和故障诊断技术与大型复杂设备、综合保障紧密关联。逐步建立起适应于型号和军事装备的开放式的综合测试系统、故障诊断系统和多种通用、系列化自动测试平台。”等行业发展趋势观点与见解。


 

本届研讨会以“智能测试、预测与故障诊断技术的发展与应用”为研讨专题,特邀国内10名专家作大会报告,旨在进一步推动智能测试、预测与故障诊断新技术、新方法以及科研成果的推广应用。航天测控公司总工程师王石记研究员应邀作了题为《高性能集成电路测试机发展现状与研究进展》的专家报告。集成电路产业是战略性、基础性和先导性产业,自2006年开始,集成电路超过石油成为我国最大进口产品,集成电路测试设备作为集成电路行业唯一贯穿设计、制造、封装、应用全过程的设备对于产品良率和品质的提升至关重要。王石记研究员在报告中总结了半导体行业背景及测试现状、国外发展经验、检测仪器产品分类及其市场规模、测试机在后道测试中的地位及其发展历程、国内外发展现状、测试机分类及其典型代表产品;报告中指出了未来10年-20年,针对新型集成电路、新工艺等,超大规模集成电路测试机将成为主流;报告中分享了国产自主可控高端测试机发展情况,从总体架构、关键技术等方面进行了分析,展示了国内相关最新研究成果。王石记研究员认为虽然高性能集成电路测试机领域目前被国外垄断,具有一定的差距,但国内近几年来高度重视该产业领域,起步虽晚,但在核心产业自主可控的背景下高端测试机发展迅猛,攻克了多项核心技术,未来有望实现国产替代。最后围绕积极推动国内集成电路测试行业发展,王石记研究员在政策制度、标准体系建设、技术能力建设等方面提出了几点专家建议。

 

 

研讨会活动期间航天测控公司携新版《解决方案》与《产品选型》等手册宣传资料与自主创新的PXI/PXIe总线四槽便携式智能平板和多款全国产化模块仪器产品实物亮相现场,赢得与会观众热情关注,部分与会人员尤其对航天测控公司自主创新的全国产化总线式智能仪器产品及解决方案等成果能力表示了积极肯定与合作意向。

 





 

[关闭]  [打印]
 

Copyright© 版权所有 中国航天科工集团有限公司
备案序号:京ICP备05067351 京公网安备11040102100081号
联系地址:北京市石景山区实兴东街3号  邮编:100041